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天津市丽景微电子设备有限公司

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力学样品台
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产品: 浏览次数:206力学样品台 
品牌: 力学样品台
单价: 1.00元/件
最小起订量:
供货总量: 1000000000000 件
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-05-06 14:30
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详细信息
原位力学控制系统是在标准样品台的基础上设计力学控制模块和控制单
元。该系统采用感应微压头,在扫描电镜内可直接观察纳米机械测试,不仅
可以对纳米材料进行机械挤压的成像,而且同时可以获取载荷-位移数据。另
外,用户可选择Push-to-Pull模块可实现样品拉伸实验,或者选择加热模块可实现热场和力场耦合实验,加热模块可选搭载push-to-pull模块的程序升温方式(RT-1000℃,±1K),或者电阻加热方式(RT-1300℃,±1K),或者选择加电模块(zui大电压±50V,电流范围:±10pA~±250mA)。

独特优势:
1.支持多种力学测试 :
a.压缩、拉伸、弯曲、压痕、划横等测试
b.zui大拉伸位移达20μm

2.力学测量:
a.载荷范围:1μN~100mN

3.稳定性好 :
a.科学设计,漂移率zui小化
b.传感器热漂移低于0.5nm/s

4.模块化设计:
a. 可扩展加电或加热模块

原位力学控制系统技术参数:

温度范围
RT

适用样品
固体

分辨率
电镜分辨率

行程
XY方向10mm,Z方向20mm

载荷量程
≥100mN

zui小载荷
[1μN

纵向载荷分辨率
≤100nN*

位置分辨率
≤1nm*

位移分辨率
≤0.1nm*

传感器热漂移
≤0.5nm/s

旋转角度
±180°

扩展
可增配加电、高温模块

EBSD/STEM
√

EDS/WDS
√

适用电镜
ZEISS,FEI,JEOL,Hitachi,Others

*纵向载荷分辨率、位置分辨率、位移分辨率,测试的 载荷背景噪音10Hz。



应用领域:
1.材料力学研究领域:力和位移瞬态效应相关材料的研究 、位错卒发研究、应力下的晶相转变研究、 纳米线、纳米球的力学测试、剪切带或断裂发生 、材料失效分析、
2.材料力学测试领域: 压痕测试 、拉伸测试(配拉伸台)、 纳米压痕测试、 纳米划痕测试
更多访问:
http://www.chip-nova.com.cn/SonList-2050785.html
https://www.chem17.com/st384871/erlist_2050785.html
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